2、如果您的系統(tǒng)中有多條內(nèi)存，下一步的工作便是要找出哪條內(nèi)存有問題。當然，如果您近期剛升級過內(nèi)存或加了一條內(nèi)存，那么也許判斷很簡單，問題便可能出在新加的內(nèi)存或新加內(nèi)存所在的插槽上，這相對來說好判斷一些。而對一般情況，即近期內(nèi)存并無變動，要找出故障只能逐一測試，即只保留一條內(nèi)存，將其他拔下，運行測試程序， 然后在同一插槽上對其他內(nèi)存條也做同樣的測試。如果在測試中只有一條內(nèi)存出現(xiàn)故障，那么，故障原因便找到了。如果測試中每條內(nèi)存均出現(xiàn)同樣的錯誤報告，最大的可能便是該插槽有問題，當然，也不能排除所有內(nèi)存條都有故障的可能，這就需要換個插槽或換塊主板進行測試了。

　　對多條內(nèi)存還有另一種可能，即單條測試均沒有問題，但當將所有內(nèi)存都插上時運行測試程序則報錯，這可能有兩個原因，1、內(nèi)存之間的兼容性不好，不能共同工作；2、更大的可能是主板內(nèi)存插槽中某一個有問題，對這種情況可以分別用一條內(nèi)存逐一在各內(nèi)存插槽上運行測試，以找出存在故障的內(nèi)存插槽。

三、導致內(nèi)存出現(xiàn)故障的根本原因

　　與PC內(nèi)的其他配件相比，內(nèi)存的結構與生產(chǎn)相對簡單，其不過將多粒存儲芯片通過簡單的電路組合起來，而存儲芯片(DRAM chips)在出廠前一般也都經(jīng)過嚴格的測試，因此其出現(xiàn)故障的概率相對要小于其他部件。但是，任何一款電子器件在工作與使用過程中對某些因素都是脆弱的，內(nèi)存也不例外：

　　電壓：市電電壓過大的波動，或者PC機上使用劣質電源，也會給內(nèi)存帶來損害，有時候這種損害可能是馬上顯現(xiàn)出來，而另一些情況則可以是長期的、逐漸的降低內(nèi)存的電氣指數(shù)。另外，長期對內(nèi)存采用加壓超頻的方法也同樣會損害內(nèi)存。

　　靜電：靜電是導致內(nèi)存模塊損壞的最主要因素。因此，在我們安裝或卸載內(nèi)存模塊時，如果有條件可以使用防靜電手環(huán)，不然，接觸內(nèi)存模塊前要采取一定手段將身上的靜電散去，如摸一下接地的金屬制品象暖氣管道之類。另外，在接觸內(nèi)存模塊時不要用力過大導致“捏壞”存儲芯片或周邊電路，不要以為這是在開玩笑，筆者就曾不止一次見過用戶在拔插內(nèi)存時將內(nèi)存模塊上的小電壓“碰”掉的情況。

　　工作環(huán)境：如果您的PC機箱內(nèi)充滿灰塵，或者PC工作環(huán)境相對潮濕，那么，長期工作在這類環(huán)境因素下，內(nèi)存模塊的壽命會大大降低。另外，如果您的PC散熱不好的話，內(nèi)存長期工作在高溫下，無論相應的熱量是由內(nèi)存模塊還是周圍部件產(chǎn)生，也會縮短其壽命。

　　主板內(nèi)存插槽和內(nèi)存周邊電路：按說這不屬于我們今天要探討的內(nèi)存損壞的范疇，不過，主板內(nèi)存插槽在大力的拔插下同樣可能損害，而主板上電路也同樣會因上文提及的因素而損壞，而很多時候這種情況下癥狀與內(nèi)存模塊損壞的癥狀很難區(qū)分，只能采取替換法才能確診。