在使用一根內(nèi)存條的時候一切正常，增加了內(nèi)存條后，電腦開機的時候內(nèi)存要檢測3遍，檢測時間還很長。

　　這種現(xiàn)象大多是因為主板和內(nèi)存不兼容造成的。大多出現(xiàn)在高頻率內(nèi)存用于不支持此頻率的內(nèi)存主板上，可以更換內(nèi)存或者在BIOS中降低內(nèi)存的速度。在BIOS中，進入Advanced BIOS Features(高級設置)項，選擇Quick Power Self Test項，將其設置為Enabled即可。

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